2023年2月1日(水)~3日(金)に韓国で開催されるSEMICON KOREAに出展致します。
今回の展示会では、超精密度Ultra Fine JIG、Probe Card及びIGBT検査装置展示を行います。
お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。
ぜひとも弊社ブースへお越しください。
出展概要
■主な展示内容
・Ultra Fine JIG
・MEMS用 Probe Card
・CMOS Image Sensor用 Probe Card
・IGBT検査装置
